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RFID检测装置
T8200PRO-G便携式RFID性能测试仪
T8200PRO-G便携式RFID性能测试仪
  • 便携式测试仪,方便检测谐振频率,Q值,带宽等。

  • 准确测量各种尺寸的中短波器件的各种尺寸参数,包括:谐振频率,衰减,Q值,支持读取UID码,识别部分芯片。

  • 能够测试传输或反射特性(包括定向耦合),可调射频输入功率,模拟读卡器。

  • 测试结果和波形可以自动写入日志文件。

  • 预设测试范围,以确定样品是否合格。

描述
  • T8200PRO-G便携式RFID性能测试仪

  • 测试原理:磁耦合非接触谐振频率

  • 测量方式:传输/反射特性

  • 检测项目:谐振频率、衰减、Q值、UID、芯片类型(部分)

  • 协议:ISO14443A、ISO14443B ISO15693

  • 数据点:100~2048点

  • 测试时间:无ID读数:0.5秒(典型),有ID读数:1秒(典型)

  • 日志文件:UID, PASS/FAIL,共振频率,衰减,Q值

  • 波形格式:csv、jpg

  • 频率范围:10KHz~100MHz

  • 应用功率:-30~15dBm

  • DIO接口(可选):隔离输入/输出

  • 系统要求:PC(OS) Windows7、Windows8.1、Windows10、USB2.0

  • 电源:USB总线电源(电流消耗500ma)

  • 包装清单:主机、USB线、同轴电缆(500m x2)、高频标准卡尺寸测试夹具、天线板测试可选不同尺寸规格、安装光盘

  • 尺寸重量:125(W)x165(D)x40(H)mm,不包括突出物,0.8kg

T8200PRO-G便携式RFID性能测试仪
增值/功能
  • T8200PRO-G便携式RFID性能测试仪操作简单、易学、携带方便

  • 显示方便,频谱、Q值、衰减db值直接屏幕显示

  • 自动判断测量结果是否通过,并自动生成检测日志文件。

应用程序

    • 智能卡、RFID标签共振频率检测:告知测量结果是否正确;自动生成检查日志文件;可调射频功率-30dBm~15dBm。可以在芯片绑定前检测射频天线,如双接口卡线圈镶嵌。

    • RFID读写天线谐振频率检测。

    • 无线电源线圈和功率电感的自共振频率检测

    便携式RFID性能测试器。jpg

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