Zhejiang University vyvíjí RFID nové technologie nanosphere probe, která může být použita v biomateriálů a dalších disciplínách

Reportér se naučil od společnosti Zhejiang University před několika dny, že tým badatele Hu Huan ze školy, ve spolupráci s týmem Výzkumného centra IBM Watson a profesora Peng Yitian of Donghua University, vynalezl nový typ technologie nanosphere probe, která může přesně měřit rozhraní mezi nanometrem a mikrometrem. , Naplňuje odbytnost této škály a řeší důležité technické lahvi v oblasti nanotribologie.

Atomový mikroskop síly se používá ke studiu "nutré" při kontaktu. Jeho základní komponenta probe je jako "tentacles" hmyzu, které mohou převést sílu na vzorový povrch do ohýbání mikro klitr, který je poté detekován laserovým paprskem. Mezi nimi, sférická atomová síla probe má více výhod při deformaci, tvrdosti a mechanických vlastnostech. Nicméně, velikost tradiční sférické atomové síly probe je 1-10 mikronů, a tam je slepé místo v měření nanometrové škály. Ve stejnou dobu je sférická probe vložena lepidlem a minulostí je obtížné kontrolovat, která bude mít vliv na přesnost a snadno se spadne, když se setká s vysokou teplotou nebo kapalinou.

"Vysoká energie helium ion paprsek může být zaměřena na místo paprsku o průměru asi 0,5 nanometrů. Stejně jako ultra-malý nůž, může řezat materiály v měřítku nanometru, ale implantuje vysokoenergetický ion paprsek helium do substrátu křemíku vytvoří hrbol. "Hu Huan řekl, že výzkumný tým provedl první experiment s použitím helium ion uplift efekt, aby se nanosphere sondy. Platforma je vyrytována na sondu běžného atomového rázového mikroskopu zaměřeného na iontu a vysokoenergetický iontový paprsek helium se podává po přesné poloze na platformě, což činí monokrystalickou křemíku a realizuje stabilní a spolehlivý proces výroby nanosphere probe. Svařovací sondu s vysokým rozlišením, vysokou přesností a vysokou teplotní odolností je vyrobena a průměr hrotu jehly lze přesně upravit mezi 100 nanometry a 1 mikron.